icp光谱分析仪如何消除因光谱及样品物理性质带来的干扰
更新时间：2021-12-16 点击次数：1263
icp光谱分析仪
主要用于微量元素的分析，可分析的元素为大多数的金属和磷、硅、硫等少量的非金属物质，数量高达72种之多，是当前光谱分析中迅速灵敏的一种仪器。采用等离子光学接口完成消除水平观测时尾焰的影响、全谱CCD技术和多视角等离子体定位等新技术，有高灵敏度、高精度以及波长范围宽等特性。 icp光谱分析仪分析过程中有时会受到一些不利因素干扰，导致分析数值不准确，就好比说光谱或样品物理性质干扰，因此就需要用不同的方法去消除此类干扰，这对于新手来说还是存在一定难度，但并不是不能解决，只要方法找对了，其实也不难！
先来说说光谱干扰：是常见的干扰，跟试样类型有关，在软件中可以看出来有没有光谱干扰。
消除方法参考：双边校正背景方式，通过调节两个背景点的位置和像素点来消除干扰；若干扰很严重可用MSF模型。IEC用的很少。
那么对于物理干扰怎么理解呢：因为样品首先进行雾化，粘度不一样，雾化效率不一样，形成气溶胶效率不一样，到达中心管的速度不一样，从而引起强度值的变化。1%的硝酸和5%的硫酸通过相同的条件进行雾化，出来的液滴大小不一样，这是由于样品物理性质的干扰对测定造成的影响。
消除方法参考：首先保证载气流量的稳定，采用复配方式测定，配标液可用到异辛烷；基体大致相同；基体校正系数法，用的较少；标准加入法；内标法，加内标元素进去，让它时时监控雾化效率和传出效率，如果有改变，可按照系数计算。
